一、背景 隨著得物App各業(yè)務(wù)功能的豐富和升級(jí)，得物App內(nèi)可供用戶(hù)體驗(yàn)的內(nèi)容和活動(dòng)逐步增多，在用戶(hù)App內(nèi)體驗(yàn)時(shí)長(zhǎng)不斷增長(zhǎng)的大背景下，App使用過(guò)程中的體驗(yàn)問(wèn)題變得愈發(fā)重要。同時(shí)，在整個(gè)功能研發(fā)流程中，App端的測(cè)試時(shí)間…

文章介紹了Bridgic框架中的三種編排模式：靜態(tài)編排、動(dòng)態(tài)編排和自主編排，通過(guò)代碼展示了它們?nèi)绾螌?shí)現(xiàn)。核心是動(dòng)態(tài)有向圖(DDG)架構(gòu)，支持運(yùn)行時(shí)動(dòng)態(tài)修改拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，滿(mǎn)足AI Agent系統(tǒng)的高度動(dòng)態(tài)性需求?？蚣芴峁┝薬dd_worker、ferry_to…

一、測(cè)試技術(shù)債務(wù)的本質(zhì)與分類(lèi)? 測(cè)試技術(shù)債務(wù)（Testing Technical Debt）是軟件測(cè)試領(lǐng)域中因短期妥協(xié)而累積的長(zhǎng)期維護(hù)成本，其本質(zhì)是?測(cè)試資產(chǎn)質(zhì)量的系統(tǒng)性退化?。與開(kāi)發(fā)技術(shù)債務(wù)不同，測(cè)試債務(wù)不直接體現(xiàn)在業(yè)務(wù)功能缺陷上&#…

MCU（Microcontroller Unit，微控制器）最小系統(tǒng)，是指讓一片 MCU 芯片獨(dú)立完成上電啟動(dòng)、執(zhí)行基礎(chǔ)程序所必需的最精簡(jiǎn)電路集合。它如同電子設(shè)備的 “裸機(jī)核心”，僅保留 MCU 運(yùn)行的絕對(duì)必要條件，不包含任何用于…

在汽車(chē)制造加速智能化轉(zhuǎn)型的今天，“工業(yè)解決方案”這個(gè)詞，正悄悄褪去它以往那種設(shè)備堆砌的冰冷印象，變得更像一場(chǎng)系統(tǒng)性的生命重構(gòu)——數(shù)據(jù)是血脈，AI是大腦，真實(shí)的生產(chǎn)場(chǎng)景成了它鮮活的肌體。我們說(shuō)，這場(chǎng)變…

本文詳細(xì)介紹了智能體設(shè)計(jì)中的反思模式，這是一種讓智能體對(duì)自身輸出進(jìn)行評(píng)估并自我優(yōu)化的機(jī)制。通過(guò)"執(zhí)行-評(píng)估-優(yōu)化"的閉環(huán)迭代，智能體能主動(dòng)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、修正錯(cuò)誤，大幅提升輸出質(zhì)量。文章闡述了反思模式的概念特征、價(jià)值意義、典型…

探索性測(cè)試的定義與重要性? 探索性測(cè)試（Exploratory Testing, ET）是一種非腳本化的軟件測(cè)試方法，由測(cè)試人員實(shí)時(shí)設(shè)計(jì)、執(zhí)行和優(yōu)化測(cè)試用例，依賴(lài)個(gè)人技能、經(jīng)驗(yàn)和直覺(jué)來(lái)發(fā)現(xiàn)潛在缺陷。與腳本化測(cè)試不同，ET強(qiáng)調(diào)在測(cè)試過(guò)…

一、測(cè)試領(lǐng)導(dǎo)力的本質(zhì)：從“找Bug”到“質(zhì)量驅(qū)動(dòng)者”的角色躍遷? 傳統(tǒng)意義上的測(cè)試工程師，核心職責(zé)是執(zhí)行用例、報(bào)告缺陷、保障上線(xiàn)質(zhì)量。而現(xiàn)代測(cè)試領(lǐng)導(dǎo)者，已演變?yōu)?質(zhì)量文化的塑造者、技術(shù)戰(zhàn)略的制定者與跨職能團(tuán)隊(duì)的賦能者?。其領(lǐng)導(dǎo)力并…